ご覧頂きありがとうございます。以下の書籍となります。・電子デバイスの信頼性向上・事例集　　監修　塩見　弘　編集委員　岡本英男　　　　　　高橋洽太郎　昭和61年11月25日　第1版第1刷　サイエンスフォーラム発行　Science Forum　定価　53,000円　全333頁　外箱付き・目次　第1部　電子デバイスの故障モードと解析　第2部　故障解析の成果の生かし方　第3部　解析装置の効果的な使い方　第4部　改善確認のための試験方法　第5部　信頼性向上のための今後の留意点・約30年前の書籍ですが、半導体デバイスの故障解析の基礎が丁寧に記載されています。・半導体デバイスのプロセス設計・不良解析を学習・研究される方や、半導体エンジニア向けかと存じます。・書き込みはございません。見落としがある可能性がございます点、ご了承下さい。・本の角にはヨレ等はございません。画像にてご確認下さい。・個人名が書かれている箇所が複数あります。発送前に、紙を貼って修正させて頂きます。・発送は、ビニールで防水し、簡易包装のネコポスを予定しています。以上、ご活用頂ける方、ご検討のほど、宜しくお願いいたします。